scanning transmission electron microscopy

STEM method that produces magnified images or diffraction patterns of the sample by a finely focused electron beam, scanned over the surface and which passes through the sample and interacts with it Note 1 to entry: Typically uses an electron beam with a diameter of less than 1 nm. Note 2 to entry: Provides high-resolution imaging of the inner microstructure and the surface of a thin sample [or small particles (3.9)], as well as the possibility of chemical and structural characterization of micrometre and sub-micrometre domains through evaluation of the X-ray spectra and the electron diffraction pattern. [SOURCE: ISO/TS 10797:2012, 3.10, modified — In the term, “microscopy” has replaced “microscope".

STEM

метода којом се стварају увећане слике или дифракционе структуре узорка помоћу фино усмереног снопа електрона којим се површина узорка скенира и који пролази кроз узорак и узајамно реагује са њим

Напомена 1 уз термин:   Обично се користи сноп електрона са пречником мањим од 1 nm.

Напомена 2 уз термин:   Омогућава стварање слика са великом резолуцијом унутрашње микроструктуре и површине танких узорака [или малих честица (3.9)] и омогућава хемијско и структурно испитивање микрометарских и субмикрометарских домена коришћењем добијених спектара Х-зрака и електронских дифракционих структура.