0 Stavka
Moj nalog
Telefon: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Prodaja standarda: prodaja@iss.rs Seminari, obuke: iss-edukacija@iss.rs Informacije o standardima: infocentar@iss.rs
Stevana Brakusa 2, 11030 Beograd
Glavni meni

IEC 62415:2010 ED1

Semiconductor devices - Constant current electromigration test
19. 5. 2010.

Опште информације

60.60     19. 5. 2010.

IEC

TC 47

Međunarodni standard

31.080.01  

engleski   francuski  

Kupovina

Objavljen

Jezik na kome želite da primite dokument.

Apstrakt

IEC 62415:2010 describes a method for conventional constant current electromigration testing of metal lines, via string and contacts.

Životni ciklus

TRENUTNO

OBJAVLJEN
IEC 62415:2010 ED1
60.60 Standard objavljen
19. 5. 2010.