0 Stavka
Moj nalog
Telefon: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Prodaja standarda: prodaja@iss.rs Seminari, obuke: iss-edukacija@iss.rs Informacije o standardima: infocentar@iss.rs
Stevana Brakusa 2, 11030 Beograd
Glavni meni

IEC 60759:1983 ED1

Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers
1. 1. 1983.

Опште информације

60.60     1. 1. 1983.

IEC

TC 45

Međunarodni standard

17.240  

engleski   francuski  

Kupovina

Objavljen

Jezik na kome želite da primite dokument.

Apstrakt

Gives standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers consisting of a semiconductor radiation detector assembly and signal processing electronics interfaced to a pulse-height analyzer/computer.

Životni ciklus

TRENUTNO

OBJAVLJEN
IEC 60759:1983 ED1
60.60 Standard objavljen
1. 1. 1983.

ISPRAVKE / IZMENE

OBJAVLJEN
IEC 60759:1983/AMD1:1991 ED1

REVIDIRAN OD

PROJEKAT
IEC 60759 ED2