0 Stavka
Moj nalog
Telefon: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Prodaja standarda: prodaja@iss.rs Seminari, obuke: iss-edukacija@iss.rs Informacije o standardima: infocentar@iss.rs
Stevana Brakusa 2, 11030 Beograd
Glavni meni

ISO/AWI 20171

Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Tagged image file format for scanning electronmicroscopy (TIFF/SEM)

Опште информације

20.00     5. 1. 2026.

ISO

ISO/TC 202/SC 4

Međunarodni standard

Apstrakt

This document specifies a platform-independent data file format for digital images generated by a
scanning electron microscope (SEM) by adapting the TIFF based format.

Životni ciklus

TRENUTNO

PROJEKAT
ISO/AWI 20171
20.00 Novi projekat upisuje se u plan rada komisije za standarde
5. 1. 2026.