Objavljen
Ovim dokumentom utvrđuje se metoda za merenje debljine pojedinačnih slojeva nikla i merenje razlike u potencijalu između pojedinačnih slojeva nikla u višeslojnim elektrolitičkim prevlakama nikla. Merenje prevlaka ili sistema slojeva koji se razlikuju od višeslojnih elektrolitičkih prevlaka nikla, nije obuhvaćeno predmetom i područjem primene ovog dokumenta.
POVUČEN
SRPS EN 16866:2017
OBJAVLJEN
SRPS EN ISO 16866:2022
60.60
Standard objavljen
30. 12. 2022.