SRPS EN IEC 60749-34-1:2026

Poluprovodničke komponente – Metode mehaničkih i klimatskih ispitivanja – Deo 34-1: Ispitivanje ciklusa snage za poluprovodnički modul snage

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34-1: Power cycling test for power semiconductor module

Apstrakt

Ovaj standard opisuje metodu ispitivanja koja se koristi za određivanje sposobnosti poluprovodničkih modula snage da izdrže termičko i mehaničko naprezanje koje nastaje usled ciklusne disipacije snage u unutrašnjim poluprovodničkim elementima i unutrašnjim konektorima. Zasnovan je na IEC 60749-34, ali je razvijen posebno za proizvode poluprovodničkih modula snage, uključujući bipolarni tranzistor sa izolovanim gejtom (IGBT), metal-oksid-poluprovodnički tranzistor sa efektom polja (MOSFET), diodu i tiristor. Ukoliko postoji zahtev kupca za pojedinačnu upotrebu ili smernice specifične za primenu (na primer, ECPE smernice AQG 324), detalji metode ispitivanja mogu se zasnivati na tim zahtevima ako odstupaju od sadržaja ovog dokumenta. Ovo ispitivanje izaziva zamor materijala i smatra se destruktivnim.