SRPS EN IEC 63185:2025

Merenje kompleksne permitivnosti dielektričkih podloga sa malim gubicima primenom metode sa simetričnim kružnim disk-rezonatorom

Measurement of the complex permittivity for low-loss dielectric substrates balanced-type circular disk resonator method

Apstrakt

Ovaj dokument se odnosi na metodu merenja kompleksne permitivnosti dielektričnih podloga na mikrotalasnim i milimetarskim frekvencijama. Ova metoda je razvijena za procenu dielektričnih svojstava materijala sa malim gubicima koji se koriste u mikrotalasnim i milimetarskim kolima i uređajima. Koristi modove višeg reda simetričnog kružnog disk rezonatora i omogućava širokopojasna merenja dielektričnih podloga korišćenjem jednog rezonatora, gde se efekat pobudnih šupljina i efekat ivičnih polja tačno uzimaju u obzir na osnovu analize podudaranja modova.