Ovaj standard utvrđuje postupak kvantitativnog određivanja koncentracije elemenata u tragovima i glavnih elemenata u otpadu, zemljištu i sličnim matriksima pomoću rendgenske (X-ray) fluoroscentne spektrometrije (EDXRF), disperzivne rendgenske (X-ray) fluoroscentne spektrometrije (WDXRF) uz kalibraciju sa standardima koji odgovaraju matriksima. Standard se primenjuje za sledeće elemente: Na, Mg, Al, Si, P, S, Cl, K, Ca, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Br, Rb, Sr, Y, Zr, Nb, Mo, Ag, Cd, Sn, Sb, Te, I, Cs, Ba, Ta, W, Hg, Tl, Bi, Th i U. Nivoi koncentracija između masenih frakcija od oko 0,0001% i 100% mogu da se odrede zavisno od elemenata i upotrebljenog instrumenta. Opciona metoda XRF skrininga za čvrsti i tečni materijal kao što je otpad, mulj i zemljište je dodata u Prilogu A, kojim se obezbeđuje ukupna karakterizacija elemenata na polukvantitativnom nivou, pri čemu se kalibracija zasniva na kalibracionim krivama koje nisu zavisne od vrste matriksa, kako je prvobitno uspostavio proizvođač..
OBJAVLJEN
SRPS EN 15309:2010
PROJEKAT
dnaSRPS EN ISO 18227:2026
50.99
Definitivni tekst nacrta standarda odobren za objavljivanje
19. 2. 2026.