Opisuje procedure za merenje kristalno silicijumskih fotonaponskih (PV) karakteristika niza na licu mesta i ekstrapolaciju ovih podataka
OBJAVLJEN
SRPS EN 61829:2017
PROJEKAT
prSRPS EN IEC 61829:2024
10.99
Novi projekat se prihvata
5. 8. 2024.