Opisuje merenje unutrašnje površinske impedanse (Zs) HTS filmova na mikrotalasnim frekvencijama modifikovanom metodom dielektričnog rezonatora sa dva rezonantna režima. Cilj merenja je dobijanje temperaturne zavisnosti sopstvenog Zs na rezonantnoj frekvenciji f0. Opseg frekvencije i debljine i rezolucija merenja za Zs HTS filmova su sledeći:
- frekvencija: do 40 GHz;
- debljina filma: veća od 50 nm;
- rezolucija merenja: 0,01 mΩ na 10 GHz.
Ključno je da se podaci Zs na izmerenoj frekvenciji i oni skalirani na 10 GHz prijave radi poređenja, pod pretpostavkom pravila f2 za sopstveni površinski otpor, Rs (f < 40 GHz), i pravila f za sopstvenu površinsku reaktansu, Xsl.
OBJAVLJEN
SRPS EN 61788-15:2013
PROJEKAT
dnaSRPS EN IEC 61788-15:2025
50.60
Završetak postupka odobravanja definitivnog teksta nacrta standarda
21. 11. 2025.