Telefon: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Prodaja standarda: prodaja@iss.rs Seminari, obuke: iss-edukacija@iss.rs Informacije o standardima: infocentar@iss.rs
Stevana Brakusa 2, 11030 Beograd
Glavni meni

prSRPS EN IEC 62979:2025

Fotonaponski moduli - Bajpas diode - Termička ispitivanja

Photovoltaic modules - Bypass diode - Thermal runaway test

Опште информације

10.99     21. 7. 2025.

ISS

N082

Evropski standard

27.160  

engleski  

Apstrakt

EC 62979: 2017 (E) obezbeđuje postupak za procenu da li je povratna dioda, montirana u modulu, podložna promeni svojih parametara, kao rezultat temperature. Ova metodologija ispitivanja je posebno pogodna za ispitivanje Schottki diode, koje imaju svojstvo povećanja struje curenja kao funkciju obrnutog napona na višim temperaturama, što ih čini podložnijim odstupanjima parametara zbog toplote.

Životni ciklus

PRETHODNO

OBJAVLJEN
SRPS EN 62979:2020

TRENUTNO

PROJEKAT
prSRPS EN IEC 62979:2025
10.99 Novi projekat se prihvata
21. 7. 2025.

Povezani projekti

Identičan sa prEN IEC 62979 IDENTICAL

Identičan sa IEC 62979 ED2 IDENTICAL