Hemijska analiza gvožđa i čelika — Optička emisiona spektrometrijska analiza sa indukovano spregnutom plazmom nelegiranih i niskolegiranih čelika — Određivanje Si, Mn, P, Cu, Ni, Cr, Mo i Sn, rastvaranjem u azotnoj i sumpornoj kiselini (rutinska metoda)
Chemical analysis of ferrous materials - Inductively coupled plasma optical emission spectrometric analysis of unalloyed and low alloyed steels - Determination of Si, Mn, P, Cu, Ni, Cr, Mo and Sn, following dissolution with nitric and sulphuric acids
Ovim evropskim standardom se utvrđuje optička emisiona spektrometrijska rutinska metoda indukovano spregnutom plazmom za analizu nelegiranih i niskolegiranih čelika čiji sadržaj gvožđa mora da bude najmanje 95 %. Ovaj standard se razlikuje od sličnog EN 10351:2011 po tome što je optimizovan za određivanje silicijuma.
Ovaj metod se primenjuje na elemente navedene u Tabeli 1 unutar navedenih opsega. Opisanom pripremom uzorka ne mogu se potpuno rastvoriti uzorci koji imaju kombinaciju visokog hroma i znatan ugljenik. Takođe, nepotpuno rastvaranje može uticati na određivanje mangana i molibdena u tim uzorcima. Zbog toga je opseg metode ograničen na sadržaj hroma = 0,9 %, dok opseg u EN 10351 obuhvata raspon do 1,6 % hroma.
NAPOMENA Za kalaj, videti napomenu 2 u tački 11.
U svim slučajevima navedeni opsezi mogu se proširiti ili prilagoditi (posle validacije) za određivanje drugih masenih frakcija, pod uslovom da je sadržaj gvožđa u uzorcima iznad 95 %. Ostali elementi mogu biti uključeni. Međutim, takvi elementi i njihovi maseni udeli treba da budu pažljivo provereni, uzimajući u obzir moguće interferencije, osetljivost, rezoluciju i linearnost kriterijuma svakog instrumenta i svake talasne dužine.
U zavisnosti od osetljivosti svakog instrumenta, može biti neophodno odgovarajuće razdvajanje kalibracije i rastvaranje uzoraka. Štaviše, čak i ako je opisana metoda „multiementalna”, nije apsolutno neophodno istovremeno utvrđivanje svih elemenata: merni uslovi moraju biti optimizovani za svaku laboratoriju, u zavisnosti od karakteristika svakog aparata koji je na raspolaganju.
