Objavljen
Ova metoda ispitivanja obuhvata postupke u cilju razvrstavanja veličina čestica, hemijske klasifikacije i metoda ispitivanja E 45 procene uključaka u čeliku korišćenjem automatizovanog skenirajućeg elektronskog mikroskopa (SEM) sa analizom X-zracima i mogućnošću automatske analize slike.
OBJAVLJEN
SRPS C.A3.047:2012
60.60
Standard objavljen
30. 3. 2012.