SRPS EN 62562:2012

Metoda rezonantne šupljine koja se primenjuje za merenje kompleksne permitivnosti ploča od dielektrika sa malim gubicima

Cavity resonator method to measure the complex permittivity of low-loss dielectric plates

Apstrakt

Standardom IEC 62562:2010 opisuje se jedna metoda merenja dielektričnih svojstava u ravni dielektrične ploče na frekvencijama mikrotalasa. Standard je načinjen kako bi se razvili novi materijali i projektovali aktivni i pasivni mikrotalasni uređaji za koje je sve značajna standardizacija metoda merenja svojstava materijala. Ovaj standard karakteriše sledeće: relativna permitivnost ε′ i vrednosti tangensa ugla gubitaka tanδ uzorka dielektrične ploče mogu se izmeriti tačno i bez bestrukcije ploče; može se izmeriti temperaturna zavisnost složene permitivnosti; tačnost merenja za ε′ je u okviru 0,3 %, a za tanδ iznosi 5 x 10-6< /sup> tanδ; granični efekat se koriguje na osnovu korekcionih dijagrama proračunatih na osnovu strogih analiza. Primenjuje se za merenja u sledećim uslovima: frekvencija 2 GHz < ƒ < 40 GHz, relativna permitivnost 2 < ε′ < 100, tangens ugla gubitaka 10-6< /sup> < tanδ < 10-2< /sup>.