Zahtevi savremene elektronske opreme su ukazivalji na zahtev za metodom ispitivanja slabljenja ekranizacije kod mikrotalasnih komponenata u celom frekvencijskom opsegu. Pogodne metode ispitivanja postoje za niže frekvencije i komponente pravilnog oblika. Ove metode ispitivanja su opisane u relevantnim IEC specifikacijama (npr. IEC 62153-4-3). Za više frekvencije i za komponente nepravilnog oblika, nove ispitne metode su postale neophodne i takve metode ispitivanja su opisane u ovom standardu. Ovaj standard opisuje merenje slabljenja usled ekranizacije (oklapanja) pomoću metoda reverberacione komore, pogodne za bilo koju vrstu mikrotalasne komponente koja teorijski nema ograničenja u pogledu gornje granice frekvencije. Kod te komore postoje samo ograničenja u pogledu donje granice frekvencija usled veličine ispitne opreme, pa merenje pomoću te komore predstavlja samo jednu od nekoliko metoda koje postoje za merenje slabljenja usled elektromagnetske zaštite. Za potrebe ovog standarda primeri mikrotalasnih komponenata su talasovodi, pomerači faze, diplekseri/multiplekseri, delitelji snage/kombinatori itd.
