SRPS EN 60749-6:2017

Poluprovodničke komponente – Metode mehaničkih i klimatskih ispitivanja – Deo 6: Skladištenje na povišenoj temperaturi

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature

Apstrakt

IEC 60749-6:2017(E)služi da ispita i utvrdi uticaj povišene temperature bez primene električnog napona pri skladištenju za sve "solid state" elektronske komponente. Ovo ispitivanje se obično koristi za određivanje utocaja vremena i temperature, u uslovima skladištenja, za metode termički aktiviranih otkaza i vremena do otkaza "solid state" elektronskih komponenti, uključujući memorijske komponente koje čuvaju podatke i nakon prestanka napajanja (mehanizmi za oštećenje podataka). Ovo ispitivanje se smatra nedestruktivnim, ali poželjno je da se koristi za kvalifikaciju komponenata. Ukoliko se ovakve komponente isporučuju, uticaji ovog ispitivanja visoko ubrzanog starenja treba da se ocene. Termički aktivirani mehanizmi za otkaz se modeluju koristeći Arheniusovu jednačinu ubrzanja, i smernice o izboru ispitnih temperatura i trajanja mogu se naći u IEC 60749-43. Ovo izdanje sadrži sledeće značajne tehničke izmene u odnosu na prethodno izdanje:
a) dodatne uslove ispitivanja;
b) razjašnjavanje primenljivosti uslova ispitivanja.