SRPS EN 60749-3:2017

Poluprovodničke komponente – Metode mehaničkih i klimatskih ispitivanja – Deo 3: Spoljašnji vizuelni pregled

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination

Apstrakt

IEC 60749-3:2017(E) služi da verifikuje da su materijali, projektovanje, konstrukcija, označavanja i kvalitet izrade poluprovodničke komponente usaglašeni sa primenljivim dokumentom nabavke. Spoljašnja vizuelna kontrola nije destruktivno ispitivanje i primenjuje se za sve tipove kućišta. Ispitivanje je korisno za kvalifikaciju, praćenje procesa, ili prihvatanje serije. Ovo izdanje sadrži sledeće značajne tehničke izmene u odnosu na prethodno izdanje:
a) ukazivaje na potrebu za zaštitom od ESD-a;
b) uključivanje informacija o fenomenu "tin whiskers";
c) uključivanje opcionog obrasca izveštaja/kontrolne liste.