SRPS EN 60749-9:2017

Poluprovodničke komponente – Metode mehaničkih i klimatskih ispitivanja – Deo 9: Trajnost oznaka

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking

Apstrakt

IEC 60749-9:2017(E) služi da utvrdi da li će oznake na poluprovodničkim komponentama "solid state" ostati čitljive kada se podvrgnu postavljanju i uklanjanju etikete ili korišćenju rastvarača ili rastvora za čišćenje u toku otklanjanja ostataka lemljenja sa štampane ploče tokom procesa proizvodnje. Ovo ispitivanje se primenjuje na sve tipove kućišta. Pogodno je za upotrebu u kvalifikacionom ispitivanu i/ili ispitivanju tokom praćenja procesa. Ovo ispitivanje se smatra nedestruktivnim. Za potrebe ovog ispitivanja mogu se koristiti električni ili mehanički škartovi. Ovo izdanje sadrži sledeće značajne tehničke izmene u odnosu na prethodno izdanje:
a) ispravka tačke 4 Oprema kompletnim prepisivanjem tačke 3 Termini i definicije;
b) dodatna varijanta - "ispitivanje povlačenja lepljive trake".