Objavljen
Ovaj dokument opisuje kalibraciju kompleta za ispitivanje kojima se vrši analiza slike, takođe poznata kao analiza bliskog polja ili analiza skale sive. Principi, ipak mogu biti primenjeni na komplete za ispitivanje različitog tipa. Navedene procedure izvršavaju se od strane kalibracionih laboratorija i proizvođača ili korisnika geometrijskih kompleta za ispitivanje, radi kalibracije komplea za ispitivanje geometrije i za procenu neizvesnosti u mjerenjima na kalibrisanim kompletima za ispitivanje. U ovom dokumentu nije pokrivena kalibracija kompleta za ispitivanje koji se koriste za mjerenje omotača vlakana ili merenja kablova.
OBJAVLJEN
SRPS EN 61745:2018
60.60
Standard objavljen
31. 7. 2018.