SRPS EN ISO 8289-2:2019

Emajli – Ispitivanje niskim naponom u cilju otkrivanja i određivanja mesta nedostataka – Deo 2: Ispitivanje mulja radi profilisanja površine

Vitreous and porcelain enamels - Low-voltage test for detecting and locating defects - Part 2: Slurry test for profiled surfaces (ISO 8289-2:2019)

Apstrakt

Ovim dokumentom utvrđuje se metoda ispitivanja niskim naponom za otkrivanje i određivanje mesta nedostataka (pora, prslina ili pukotina) u prevlakama emajla sa naboranim i/ili talasastim profilima koji dopiru do osnovnog metala.
Metoda se zasniva na efektima boje (optička metoda) i primenjiva je na precizno otkrivanje oštećenja i njihovog tačnog položaja. Može da se koristi za neravne, više profilisane oblike kao što su naborane ili talasaste površine.
NAPOMENA Ispitivanje niskim naponom je nedestruktivno ispitivanje za otkrivanje nedostataka koji dopiru do osnove metala i zbog toga je potpuno različito u poređenju sa ispitivanjem visokim naponom u skladu sa ISO 2746.