SRPS EN ISO 8289-1:2020

Emajli — Ispitivanje niskim naponom u cilju otkrivanja i određivanja mesta nedostataka - Deo 1: Ispitivanje neprofilisanih površina ("Swab" test)

Vitreous and porcelain enamels - Low-voltage test for detecting and locating defects - Part 1: Swab test for non-profiled surfaces (ISO 8289-1:2020)

Apstrakt

Ovim dokumentom utvrđuju se dva postupka ispitivanja niskim naponom za otkrivanje nedostataka u prevlakama emajla, koji dopiru do osnovnog metala i određivanje mesta njihovog nalaženja.
Metoda A (električna) se primenjuje za brzo otkrivanje nedostataka i približno određivanje njihovog mesta nalaženja. Metoda B (optička), zasnovana na promeni boje, primenjuje se za preciznije otkrivanje i tačno određivanje mesta nedostataka. Obe metode se uglavnom primenjuju na ravnim površinama. Za složenije oblike, kao što su talasaste/valovite površine, primenjuje se ISO 8289-2.