Objavljen
ISO 16526-3:2011 utvrđuje se metoda ispitivanja za neinvazivno merenje napona rendgenske cevi koristeći energiju spektra X-zraka (spektrometrijska metoda). Obuhvata se opseg napona od 10 kV do 500 kV. Namera je da se proveri prepiska stvarnog napona sa naznačenom vrednošću na kontrolnoj tabli rendgenske jedinice.
POVUČEN
SRPS EN 12544-3:2010
OBJAVLJEN
SRPS EN ISO 16526-3:2020
60.60
Standard objavljen
30. 9. 2020.