Objavljen
Ovim dokumentom utvrđuje se destruktivna metoda za merenje lokalne debljine metalnih i drugih neorganskih prevlaka ispitivanjem poprečnog preseka pomoću skenirajućeg elektronskog mikroskopa (SEM). Metoda se može primeniti na debljine do nekoliko milimetara, ali za takve debele prevlake praktičnije je da se koristi optički mikroskop (videti ISO 1463). Granična vrednost manjih debljina zavisi od postignute vrednosti mernih nesigurnosti (videti tačku 10).
NAPOMENA Metoda može da se koristi i za organske slojeve kada nisu oštećeni tokom pripreme poprečnog preseka ili elektronskim snopom tokom snimanja.
OBJAVLJEN
SRPS EN ISO 9220:2022
60.60
Standard objavljen
31. 8. 2022.