Ovaj dokument opisuje metodu ispitivanja za određivanje zostalih napona u polikristalnim materijalima pomoću neutronske radiografije. Primenjuje se na homogene i nehomogene materijale i ispitne komade koji sadrže različite faze.
POVUČEN
SRPS CEN ISO/TS 21432:2008
OBJAVLJEN
SRPS EN ISO 21432:2020
60.60
Standard objavljen
30. 11. 2020.