mikroskopija skenirajućom sondom; SPM

method of imaging surfaces by mechanically scanning a probe over the surface under study, in which the concomitant response of a detector is measured Note 1 to entry: This generic term encompasses many methods including atomic force microscopy (AFM) (3.5.2), scanning near field optical microscopy (SNOM) (3.5.4), scanning ion conductance microscopy (SICM) and scanning tunnelling microscopy (STM) (3.5.3). Note 2 to entry: The resolution varies from that of STM, where individual atoms can be resolved, to scanning thermal microscopy (SThM) in which the resolution is generally limited to around 1 μm.

instrument koji vizuelizuje površinu koja se ispituje mehaničkim prevlačenjem sonde preko nje, uz istovremeno očitavanje signala NAPOMENA 1 uz termin: Generički termin obuhvata i metode kao što su mikroskopija atomskih sila (AFM) (3.5.2), skenirajuća optička mikroskopija bliskog polja (SNOM) (3.5.4), skenirajuća mikroskopija provodnim jonima (SICM) i skenirajuća tunelska mikroskopija (STM) (3.5.3). NAPOMENA 2 uz termin: Rezolucija mikroskopa varira od veličine atoma u STM-u do oko 1 μm u skenirajućoj termalnoj mikrosopiji (SThM).

instrument koji vizuelizuje površinu koja se ispituje mehaničkim prevlačenjem sonde preko nje, uz istovremeno očitavanje signala NAPOMENA 1 uz termin: Generički termin obuhvata i metode kao što su mikroskopija atomskih sila (AFM) (3.5.2), skenirajuća optička mikroskopija bliskog polja (SNOM) (3.5.4), skenirajuća mikroskopija provodnim jonima (SICM) i skenirajuća tunelska mikroskopija (STM) (3.5.3). NAPOMENA 2 uz termin: Rezolucija mikroskopa varira od veličine atoma u STM-u do oko 1 μm u skenirajućoj termalnoj mikrosopiji (SThM).