skenirajuća elektronska mikroskopija; SEM

method that examines and analyses the physical information (such as secondary electron, backscattered electron, absorbed electron and X-ray radiation) obtained by generating electron beams and scanning the surface of the sample in order to determine the structure, composition and topography of the sample

metoda kojom se ispituju i analiziraju fizičke informacije (kao što su sekundarni elektroni, povratno-rasejani elektroni, apsorbovani elektroni i H-zračenje), dobijene pomoću stvorenog snopa elektrona koji skenira površinu uzorka da bi mu se odredili struktura, hemijski sastav i topografija

metoda kojom se ispituju i analiziraju fizičke informacije (kao što su sekundarni elektroni, povratno-rasejani elektroni, apsorbovani elektroni i H-zračenje), dobijene pomoću stvorenog snopa elektrona koji skenira površinu uzorka da bi mu se odredili struktura, hemijski sastav i topografija