masena spektrometrija sekundarnih jona; SIMS

method in which a mass spectrometer is used to measure the mass-to-charge quotient and abundance of secondary ions emitted from a sample as a result of bombardment by energetic ions Note 1 to entry: SIMS is, by convention, generally classified as dynamic, in which the material surface layers are continually removed as they are being measured, and static, in which the ion areic dose during measurement is restricted to less than 1016 ions/m2 in order to retain the surface in an essentially undamaged state.

metoda u kojoj se masena spektrometrija koristi za merenje broja sekundarnih jona u funkciji njihovog odnosa masa–naelektrisanje, pri čemu se sekundarni joni emituju iz uzorka kao rezultat bombardovanja jonima visoke energije NAPOMENA 1 uz termin: SIMS je kao metoda, na osnovu dogovora, klasifikovan kao dinamičan, u slučaju da se površinski sloj uzorka kontinualno pomera kako traje merenje, i statičan, onda kada se jonska površinska doza tokom merenja ograničava na manje od 1016 jona/m2 da bi se očuvala površina uzorka u neoštećenom stanju.

metoda u kojoj se masena spektrometrija koristi za merenje broja sekundarnih jona u funkciji njihovog odnosa masa–naelektrisanje, pri čemu se sekundarni joni emituju iz uzorka kao rezultat bombardovanja jonima visoke energije NAPOMENA 1 uz termin: SIMS je kao metoda, na osnovu dogovora, klasifikovan kao dinamičan, u slučaju da se površinski sloj uzorka kontinualno pomera kako traje merenje, i statičan, onda kada se jonska površinska doza tokom merenja ograničava na manje od 1016 jona/m2 da bi se očuvala površina uzorka u neoštećenom stanju.