atomic-force microscopy

AFM DEPRECATED: scanning force microscopy DEPRECATED: SFM method for imaging surfaces by mechanically scanning their surface contours, in which the deflection of a sharp tip sensing the surface forces, mounted on a compliant cantilever, is monitored Note 1 to entry: AFM can provide a quantitative height image of both insulating and conducting surfaces. Note 2 to entry: Some AFM instruments move the sample in the x-, y- and z-directions while keeping the tip position constant and others move the tip while keeping the sample position constant. Note 3 to entry: AFM can be conducted in vacuum, a liquid, a controlled atmosphere or air. Atomic resolution may be attainable with suitable samples, with sharp tips and by using an appropriate imaging mode. Note 4 to entry: Many types of force can be measured, such as the normal forces or the lateral, friction or shear force. When the latter is measured, the technique is referred to as lateral, frictional or shear force microscopy. This generic term encompasses all of these types of force microscopy. Note 5 to entry: AFMs can be used to measure surface normal forces at individual points in the pixel array used for imaging. Note 6 to entry: For typical AFM tips with radii \< 100 nm, the normal force should be less than about 0,1 μN, depending on the sample material, or irreversible surface deformation and excessive tip wear occurs.

AFM

ЗАСТАРЕЛО: скенирајућа микроскопија сила

ЗАСТАРЕЛО: SFМ

инструмент за визуализацију површине механичким превлачењем сонде коју носи конзола преко рељефне површине материјала мерењем деформације гредице сонде услед промене интензитета силе интеракције оштрог врха сонде (игле) и површине материјала 

Напомена 1 уз термин:   AFM омогућава топографију површине како проводних, тако и електрично непроводних материјала.

Напомена 2 уз термин:   Неки од AFM инструмената имају могућност померања узорка у x, y и z правцу, уз задржавање врха сонде у једном положају, док је код неких омогућено померање сонде, уз задржавање узорка у једном положају.

Напомена 3 уз термин:   AFM је могуће изводити у вакууму, течности, контролисаној атмосфери или ваздуху. Атомску резолуцију је могуће постићи на одговрајућим узорцима, коришћењем оштрог врха сонде и одговарајућег мода слике.

Напомена 4 уз термин:   Могуће је мерити много различитих сила, као што су нормалне, бочне, силе трења и смицања, и тада се користе термини микроскопија бочних сила, сила трења или смицања. Генерички термин укључује све поменуте типове.

Напомена 5 уз термин:   AFM се може користити за мерење сила нормалних на површину појединачних тачака у низу пиксела који генеришу слику.

Напомена 6 уз термин:   За типичан пречник врха игле \< 100 nm, нормална сила треба да буде мања од 0,1 mN, у зависности од својстава узорка, или долази до трајне деформације врха игле и површине.