Opis
STM scanning probe microscopy (SPM) (4.5.1) mode for imaging conductive surfaces by mechanically scanning a sharp, voltage-biased, conducting probe tip over their surface, in which the data of the tunnelling current and the tip-surface separation are used in generating the image Note 1 to entry: STM can be conducted in vacuum, a liquid or air. Atomic resolution can be achieved with suitable samples and sharp probes and can, with ideal samples, provide localized bonding information around surface atoms. Note 2 to entry: Images can be formed from the height data at a constant tunnelling current or the tunnelling current at a constant height or other modes at defined relative potentials of the tip and sample. Note 3 to entry: STM can be used to map the densities of states at surfaces or, in ideal cases, around individual atoms. The surface images can differ significantly, depending on the tip bias, even for the same topography.
Opis
STM
начин микроскопије скенирајућом сондом (SPM) (4.5.1) за визуелизацију електропроводне површине механичким превлачењем оштре сонде под напоном и генерисања струје тунеловања између врха сонде и површине материјала
Напомена 1 уз термин: STM се може изводити у вакууму, течности или ваздуху. Атомску резолуцију је могуће постићи са погодним узорцима и оштром сондом, и она може, у идеалним условима, обезбедити информације о природи веза атома на површини.
Напомена 2 уз термин: Слике се могу формирати из података о висини при константној струји тунеловања или из променљиве струје тунеловања на константној висини, али и другим начинима рада при дефинисаним релативним потенцијалима врха сонде и узорка.
Напомена 3 уз термин: STM се може користити за мапирање густине електронских стања на површини или, у идеалним случајевима, око појединачних атома. Слике површине се могу знатно разликовати, чак и за исту топографију, јер зависе од осетљивости врха сонде.
