Telefon: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Prodaja standarda: prodaja@iss.rs Seminari, obuke: iss-edukacija@iss.rs Informacije o standardima: infocentar@iss.rs
Stevana Brakusa 2, 11030 Beograd
Glavni meni

near-field scanning optical microscopy

engleski

Termin
near-field scanning optical microscopy
Opis

NSOM scanning near-field optical microscopy SNOM method of imaging surfaces optically in transmission or reflection by mechanically scanning an optically active probe much smaller than the wavelength of light over the surface whilst monitoring the transmitted or reflected light or an associated signal in the near-field regime Note 1 to entry: Topography is important and the probe is scanned at constant height. Usually the probe is oscillated in the shear mode to detect and set the height. Note 2 to entry: Where the extent of the optical probe is defined by an aperture, the aperture size is typically in the range 10 nm to 100 nm, and this largely defines the resolution. This form of instrument is often called an aperture NSOM or aperture SNOM to distinguish it from a scattering NSOM or scattering SNOM (previously called apertureless NSOM or apertureless SNOM) although, generally, the adjective “aperture” is omitted. In the apertureless form, the extent of the optically active probe is defined by an illuminated sharp metal or metalcoated tip with a radius typically in the range 10 nm to 100 nm, and this largely defines the resolution. Note 3 to entry: In addition to the optical image, NSOM can provide a quantitative image of the surface contours similar to that available in atomic-force microscopy (AFM) (4.5.2) and allied scanning-probe techniques.

srpski

Termin
Nema informacija
Opis
Nema informacija

srpski

Termin
скенирајућа оптичка микроскопија блиског поља
Opis

NSOM

SNOM

инструмент за оптичку визуелизацију површине у трансмисији или рефлексији, помоћу механичког превлачења оптички активне сонде много мањих димензија од таласне дужине светлости преко површине узорка, уз истовремено праћење пропуштене или рефлектоване светлости или нових сигнала у области блиског поља

Напомена 1 уз термин:   Топографија је важна и скенирајућа сонда се држи на константној висини. Уобичајено је да висина сонде осцилује у режиму смицања да би се детектовала и подесила њена висина.

Напомена 2 уз термин:   Када је величина оптичке сонде дефинисана отвором, тада је величина отвора типично у опсегу од 10 nm до 100 nm, а то много утиче на резолуцију. Овај тип инструмента се понекад назива NSOM или SNOM са отвором да би се разликовали од NSOM или SNOM који раде на бази расејања (некад су се називали NSOM или SNOM без отвора), чиме се, уопште узевши, избацује термин „отвор”. У облику без отвора, величину оптички активне сонде дефинише осветљени, метални или метализирани врх са полупречником од 10 nm до 100 nm, а ово дефинише осетљивост инструмента.

Напомена 3 уз термин:   Осим оптичке слике, NSOM може дати и нумеричке податке о облику површине, сличне онима који се добијају микроскопија атомских сила (AFM) (4.5.2) и сличним техникама на бази скенирајуће сонде.

Povezani standardi

Povezani ICS-ovi

  • 01.040.07 - Matematika. Prirodne nauke (Rečnici)
  • 07.030 - Fizika. Hemija