PROJEKAT
IEC 62047-55 ED1
30.20
Početak izjašnjavanja o nacrtu komisije standarda
5. 12. 2025.
Mikroelektromehanički uređaji — Deo 55: Tehnologija izrade MEMS na bazi silicijuma — Metoda ispitivanja uticaja mikrostrukturnog klatna
30.98 Projekat se briše iz plana rada komisije za standarde
Da biste videli ceo sadržaj, morate se registrovati ili prijaviti pomoću korisničkog imena koje već imate.