PROJEKAT
IEC 62047-55 ED1
30.99
Nacrt komisije standarda odobrava se za javnu raspravu
6. 2. 2026.
Mikroelektromehanički uređaji — Deo 55: Tehnologija izrade MEMS na bazi silicijuma — Metoda ispitivanja uticaja mikrostrukturnog klatna
30.98 Projekat se briše iz plana rada komisije za standarde