0 Stavka
Moj nalog
Telefon: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Prodaja standarda: prodaja@iss.rs Seminari, obuke: iss-edukacija@iss.rs Informacije o standardima: infocentar@iss.rs
Stevana Brakusa 2, 11030 Beograd
Glavni meni

IEC 60749-8:2002 ED1

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing
30. 8. 2002.

Опште информације

60.60     30. 8. 2002.

IEC

TC 47

Međunarodni standard

31.080.01  

engleski   francuski   španski  

Kupovina

Objavljen

Jezik na kome želite da primite dokument.

Apstrakt

Applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits), it determines the leak rate of semiconductor devices.

The contents of the corrigenda of April 2003 and August 2003 have been included in this copy.

Životni ciklus

PRETHODNO

POVUČEN
IEC 60749:1996 ED2

POVUČEN
IEC 60749:1996/AMD1:2000 ED2

POVUČEN
IEC 60749:1996/AMD2:2001 ED2

TRENUTNO

OBJAVLJEN
IEC 60749-8:2002 ED1
60.60 Standard objavljen
30. 8. 2002.

ISPRAVKE / IZMENE

OBJAVLJEN
IEC 60749-8:2002/COR1:2003 ED1

OBJAVLJEN
IEC 60749-8:2002/COR2:2003 ED1