SRPS EN IEC 61189-2-805:2024

Metode ispitivanja za električne materijale, štampane ploče i druge strukture i sklopove za međusobno povezivanje – Deo 2-805: X/Y (CTE) ispitivanje za tanke osnovne materijale pomoću TMA

Test methods for electrical materials, printed boards and other interconnection structures and assemblies - Part 2-805: X/Y CTE test for thin base materials by TMA

Apstrakt

Ovaj deo IEC 61189 definiše metodu za određivanje X/Y koeficijenta termalnog širenja za tanke osnovne materijale termomehaničkom analizom (TMA). Ova metoda se primenjuje kod materijala koji su čvrsti za ceo opseg temperatura koje se koriste, i koji zadržavaju dovoljnu krutost u celom temperaturnom opsegu tako da ne dođe do nepovratnog udubljenja uzorka senzorskom sondom.