0 Stavka
Moj nalog
Telefon: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Prodaja standarda: prodaja@iss.rs Seminari, obuke: iss-edukacija@iss.rs Informacije o standardima: infocentar@iss.rs
Stevana Brakusa 2, 11030 Beograd
Glavni meni

SRPS EN 62373:2008

Ispitivanje temperaturne stabilnosti polarizacije tranzistora sa efektom polja tipa metal-oksid-poluprovodnik (MOSFET)

Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)
19. 6. 2008.

Опште информације

90.93     16. 2. 2026.

90.00    16. 2. 2031.

ISS

N022

Evropski standard

31.080  

engleski  

Kupovina

Objavljen

Jezik na kome želite da primite dokument.

Apstrakt

Ovaj međunarodni standard obezbeđuje ispitne procedure za ispitivanje stabilnosti na temperaturni uticaj za tranzistore sa efektom polja tipa metal-oksid- poluprovodnik (MOSFET).

Životni ciklus

TRENUTNO

OBJAVLJEN
SRPS EN 62373:2008
90.93 Odluka o potvrđivanju standarda
16. 2. 2026.

Povezani projekti

Identičan sa EN 62373:2006