Ovaj deo IEC 60749 daje metodu ispitivanja koja je namenjena za vrednovanje i poređenje performansi površinski ugrađenih elektronskih komponenata koje su namenjene za proizvode sa elektronskim rukovanjem, pri padu u okruženju ubrzanog ispitivanja.
POVUČEN
SRPS EN 60749-37:2009
95.99
Povučen
30. 1. 2026.
OBJAVLJEN
SRPS EN IEC 60749-37:2023