Standardom se opisuju dve metode ispitivanja visokim naponom. Ispitivanje A se koristi za otkrivanje i lociranje nedostataka na emajlu, a ispitivanje B za otkrivanje, lociranje defekata i slabih tačaka na emajlu. Ispitivanja se izvode pomoću jednosmerne struje, pulsirajuće jednosmerne struje i naizmenične struje visokog napona. Ispitivanja se izvode samo na suvim površinama.
POVUČEN
SRPS C.T8.531:1971
POVUČEN
SRPS EN 14430:2010
95.99
Povučen
21. 6. 2016.
OBJAVLJEN
SRPS EN ISO 2746:2016