Objavljen
Ovim standardom kojim se revidiraju i EN 14430:2004 i ISO 2746:1998, opisuju se dve metode ispitivanja visokim naponom:
– ispitivanje (metoda) A koristi se za detekciju i lociranje nedostataka u emajlima;
– ispitivanje (metoda) B koristi se za detekciju i lociranje nedostataka i slabih tačaka u emajlima.
Ispitivanja se izvode korišćenjem jednosmerne, pulsirajuće jednosmerne, ili naizmenične struje sa visokim naponom. Ispitivanja su primenjiva na suvim površinama emajla. U slučaju vlažnih površina, treba voditi računa da se osigura da je lociranje nedostataka korektno izvedeno. Pošto ispitivanja naponom zavise od debljine prevlake, metoda ispitivanja, posebno ispitivanje A, ne mora biti pogodno za uzorke kod kojih debljina prevlake varira u velikoj meri.
POVUČEN
SRPS EN 14430:2010
OBJAVLJEN
SRPS EN ISO 2746:2016
60.60
Standard objavljen
21. 6. 2016.