SRPS C.A3.041:2012
Standardna praksa za karakterizaciju veličine snopa skenirajućeg elektronskog mikroskopa
Standard Practice for Scanning Electron Microscope Beam Size Characterization
30. 1. 2012.
Опште информације
60.60
30. 1. 2012.
ISS
C017-2
31.120
37.020
engleski
From plan 2011; IDT ASTM E986-04 (2010)
Apstrakt
Ova praksa omogućava reproduktivna sredstva kojim se može okarakterisati jedan aspekt performansi skenirajućeg elektronskog mikroskopa.
Životni ciklus
TRENUTNO
OBJAVLJEN
SRPS C.A3.041:2012
60.60
Standard objavljen
30. 1. 2012.
Povezani projekti
Identičan sa
ASTM E986-04 (2010)