SRPS EN 60444-8:2017

Merenje parametara jedinke kristala kvarca – Deo 8: Ispitni uređaj za jedinke kristala kvarca za površinsku montažu

Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 8 : Test fixture for surface mounted quartz crystal units

Apstrakt

IEC 60444-8:2016 objašnjava sklopove za ispitivanje kvarcnih kristalnih jedinki, bez izvoda, za površinsku montažu, u kućištima, onako kako je to definisano u IEC 61837 (svi delovi). Ovi sklopovi omogućuju merenje (redne) rezonantne frekvencije, (redne) rezonantne otpornosti i parametara ekvivalentnog električnog kola L1, C1 i C0, korišćenjem mernih tehnika koje su specificirane u IEC 60444-5, i određivanje rezonantne frekvencije pri opterećenju i rezonantne otpornosti pri opterećenju prema IEC TR 60444-4 i IEC 60444-11. U ovom dokumentu su opisana dva ispitna sklopa.