Ispitivanje uticaja okoline – Deo 2-82: Ispitivanja – Ispitivanje Xw1: Metode ispitivanja metalnih neravnina na površinama komponenata i delova koji se koriste u elektronskim sklopovima
Environmental testing - Part 2-82: Tests - Test Xw1: Whisker test methods for components and parts used in electronic assemblies
Ovaj standard utvrđuje ispitivanja na zavšnim površinama električnih ili elektronskih komponenata koji su skloni pojavama metalnih izbočenja (neravnina) i mehaničkim delovima, kao što su probušeni/pričvšćeni delovi (na primer džamperi (mostovi), plaštevi za zaštitu od električnog pražnjenja, mehanička pričvšćenja, „press-fit“ pinovi i drugi mehanički delovi koji se koriste u elektronskim sklopovima), u završnoj fazi, kada su te završne površine od kalaja ili legura kalaja. Promene fizičkih dimenzija jedinjenja polimera, plastike i slično za vreme trajanja ispitivanja se ne uzimaju u obzir i ne ocenjuju. Ove metode ispitivanja su razvijene pristupanjem na osnovu znanja. Ovaj dokument modu takođe da se da koriste poddobavljači, kao što su servisi za nanošenje završnog sloja, za lemljenje komponenata ili drugim uslužnim servisima kako bi se obezbedio održivi kvalitet završne površine u lancu snabdevanja. Ove metode ispitivanja se koriste sa definisanim kriterijumima za prihvatanje odgovarajućim komponentama ili odgovarajućom specifikacijom primene. Ispitivanja opisana u ovom dokumentu su primenljiva za početnu kvalifikaciju, za periodičan nadzor prema tački 7 i za promene tehnologije ili procesa proizvodnje postojećih završnih površina prema tački 9. Deo gde se konektori uparuju nije obuhvaćeno ovom metodom ispitivanja. Standard IEC 60512-16-21 se primenjuje kod konektora.
