SRPS EN IEC 60749-18:2020

Poluprovodničke komponente - Metode mehaničkih i klimatskih ispitivanja - Deo 18: Jonizujuće zračenje (ukupna doza)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose)

Apstrakt

IEC 60749-18:2019 obezbeđuje postupke ispitivanja za definisanje zahteva za ispitivanje kućišta poluprovodničkih integrisanih kola i diskretnih poluprovodničkih komponenti pri uticaju jonizujućeg zračenja (totalna doza) 60 grama kobalta. Mogu se koristiti i drugi pogodni izvori zračenja. Ovaj dokument bavi se samo ustaljenim zračenjima i nije primenjiv na zračenja pulsnog tipa. Namenjen je za vojne i vazduhoplovne primene. To je ispitivanje sa razaranjem. Ovo izdanje sadrži sledeće značajne tehničke izmene u odnosu na prethodno izdanje:

- ažuriranje podtački za bolje usklađivanje metode ispitivanja sa MIL-STD 883J, metoda 1019, uključujući upotrebu poboljšanih ispitivanja osetljivosti na male doze (ELDRS);

- dodavanje Bibliografije, koja uključuje ASTM standarde relevantne za ovu metodu ispitivanja.