0 Stavka
Moj nalog
Telefon: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Prodaja standarda: prodaja@iss.rs Seminari, obuke: iss-edukacija@iss.rs Informacije o standardima: infocentar@iss.rs
Stevana Brakusa 2, 11030 Beograd
Glavni meni

IEC 63740 ED1

Guideline for Gate Oxide Reliability and Robustness Evaluation Procedures for Silicon Carbide Power MOSFETs (Fast Track)

Опште информације

40.00     29. 5. 2026.

CCDV    17. 7. 2026.

IEC

TC 47

Međunarodni standard

Apstrakt

Životni ciklus

TRENUTNO

PROJEKAT
IEC 63740 ED1
40.00 Dopunjavanje i evidentiranje podataka o nacrtu standarda
29. 5. 2026.

Nacionalna preuzimanja

prSRPS EN IEC 63740:2026  
ISS

Smernica za postupke ocenjivanja pouzdanosti i robusnosti oksida gejta silicijum-karbidnih energetskih MOSFET tranzistora (brzi postupak).

10.99   Novi projekat se prihvata

N022 Saznaj više