0 Stavka
Moj nalog
Telefon: (011) 7541-421, 3409-301, 3409-335, 6547-293, 3409-310
E-mail: Prodaja standarda: prodaja@iss.rs Seminari, obuke: iss-edukacija@iss.rs Informacije o standardima: infocentar@iss.rs Sertifikaciono telo: sertifikaciono.telo@iss.rs
Stevana Brakusa 2, 11030 Beograd
Glavni meni

IEC 63740 ED1

Guideline for Gate Oxide Reliability and Robustness Evaluation Procedures for Silicon Carbide Power MOSFETs (Fast Track)

Опште информације

40.60     9. 10. 2026.

IEC

TC 47

Međunarodni standard

Apstrakt

Životni ciklus

TRENUTNO

PROJEKAT
IEC 63740 ED1
40.60 Završetak javne rasprave
9. 10. 2026.

Nacionalna preuzimanja

naSRPS EN IEC 63740:2026  
ISS

Smernica za postupke ocenjivanja pouzdanosti i robusnosti oksida gejta silicijum-karbidnih energetskih MOSFET tranzistora (brzi postupak).

40.60   Završetak javne rasprave

N022 Saznaj više