SRPS EN 60749-30:2008

Poluprovodničke komponente - Metode mehaničkih i klimatskih ispitivanja - Deo 30: Prekondicioniranje pre ispitivanja pouzdanosti nehermetičkih komponenata za površinsku ugradnju

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing

Apstrakt

Ovim standardom se utvrđuju standardne procedure za određivanje prekondicioniranja nehermetičkih površinski montiranih uređaja (SMD) pre ispitivanja pouzdanosti. Metod ispitivanja definiše tok prekondicioniranja za nehermetičke poluprovodničke površinski montirane uređaje koji predstavljaju tipične industrijske višestruke operacije.