SRPS EN IEC 62819:2024

Rad pod naponom – Štitnici za oči, lice i glavu koji štite od efekata električnog luka – Ispitne metode i zahtevi za performanse

Live working - Eye, face and head protectors against the effects of electric arc - Performance requirements and test methods

Apstrakt

Ovaj deo IEC 63275-1 opisuje ispitnu metodu za procenu pomeranja napona praga gejta silicijum karbidnih (SiC) metal-oksid poluprovodničkih tranzistora sa efektom polja (MOSFETs) očitavanjem sobne temperature nakon primene kontinuiranog pozitivnog napona naprezanja gejt- sors na povišenoj temperaturi. Predložena metoda prihvata određeni iznos oporavka dozvoljavajući velika vremena kašnjenja između naprezanja i merenja (do 10h).

Povezane direktive

NAPOMENA: Ukoliko se u polju sa nazivom direktive ne nalazi reč „harmonizovan“ (obeležena zelenom bojom), to znači da evropski standard nije citiran u OJEU.